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原子力顯微鏡

本預約系統於2024年01月01日正式開放預約

型號:Park NX-10

儀器規格
  1. 解析度:X-Y<1.0nm,Z<0.1nm, 掃瞄範圍100um
  2. 功能:Contact mode, Tapping mode, Non-contact mode, Force curve, Magnetic Force mode, Lateral Force mode, Conductive AFM mode, KPFM(AM or FM mode), Peak force tapping, 等功能。
  3. 樣品尺寸需 < 2吋

樣品準備 :

使用規則

  1. AFM提供粗糙度不超過5 μm的試片掃瞄。注意試片之潔淨度以免造成污染。不合格試片, 嚴禁使用本機台。
  2. 使用機台,請確實在使用記錄簿詳細記錄使用樣品、時間、陪同人員。
  3. 未確實填寫使用記錄簿者,一經查獲,取消其使用權。
  4. 授權人士方得使用,未經授權人士,需由合格使用者全程陪伴,並由合格使用者詳細填寫記錄。
  5. 機台使用時間採事先預約制,使用者可在網路預約使用時段,凡預約者,需準時到達使用,若遲到30分鐘,取消該時段預約權,並繳交開機費用,而此時段開放他人使用;超過三次預約不到者,取消其預約使用權,未預約者,可使用未被預約時段,若該時段已被預約,需等待預約者使用完畢,方可使用。
  6. 完全依據使用程序,並詳細填寫實驗記錄簿,各項使用不得省略步驟。
  7. 異常狀況發生無法操作時,立刻通知機台管理者,並由使用者將異常狀況登記在使用登記簿上,絕不可任意採取維修行動。
  8. 使用機台,均需使用手套,禁止徒手執行。
  9. 機台專屬工具及零件,僅供機台操作使用,不得私自帶走。工具用品使用過後,請清潔乾淨歸回原位,並將垃圾收拾乾淨。
  10. 參數的調整僅由管理員及其授權使用者操作,均需詳實記錄,一般使用者嚴禁任意使用。
  11. 研究用品,小心使用。

樣品準備

  1. 試片清洗請自理,請注意試片包封之潔淨度以免造成污染,若有不合實驗室規定之試片,本中心將通知申請人退件。
  2. 待測樣品為粉末或有鬆動及脫落的情形,本中心恕不服務。
  3. 所檢測之樣品材質需自行處理完整,如因使用者樣品問題而造成無法完成檢測的情況,使用者需自行負責。
  4. 粗操度不可超過5μm。
  5. 樣品說明文件請盡量註明樣品材料、化學成分、晶體結構、製程、樣品製備方法、希望得到的結果等。
  6. 寄送樣品者需標定樣品量測點、預期訊號位置、預期成果等詳細相關資訊。
  7. 樣品限制:
    • 最大平面掃描範圍:100μm × 100μm
    • 固態片狀材料,最大高度落差< 12μm
    • 最大試片尺寸:50 mm × 50 mm,厚度< 20 mm
    • 操作環境:大氣

檢測方式

  1. 本儀器採預約制,請與本中心聯絡預約
  2. 管 理 員:陳建宇 博士 永續能源與奈米科技研究中心
    • 聯絡電話:(04)2284-0502 #192
    • 傳真:(04)2285-1149
    • E-mail:lone125@ms22.hinet.net
    • 地址:402台中市南區興大路145號應用科技大樓1樓131室 能源奈米中心
  3. 現場繳費者可立即取件(含CCD數位影像檔案)。
  4. 匯票繳費者,於收到費用後一週內寄出。

注意事項

  1. 因故需取消實驗時,須在2日前通知管理員,否則仍需支付費用。累計達3次即停權處理。
  2. 機台使用注意事項:
  3. a. AFM之公物,皆不可帶離機台。
  4. b.違反機台管理規則者,取消其使用權。
  5. 寄送樣品者請先與奈米中心聯絡,預計完成時間為收件後14天,將以電話通知領取。
  6. 一支探針可提供最多5組數據 (視探針掃圖狀況而定) ,如探針已不適繼續掃圖,則需額外購買新探針繼續實驗。
  7. 本中心磁碟資料保存先以一個月為期限。
  8. 儀器如遇臨時維修,本中心有權利將委(自)測者時間延後,直到儀器可正常操作。
  9. 本辦法如有未盡事宜將隨時修正並公告之。
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