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113-2 專業領域微課程 Mini Courses
113-2 專業領域微課程 Mini Courses
注意事項：
*此類別為大學部專業領域之微學分課程，研究士生欲採計畢業學分，請於修習完3門為一組後(即1學分)，於各自系所填寫修習外系課程畢業分申請書，用以計入研究所畢業學分。(各系所皆有各自認定之修習外系學分上限，請修課生自行確認。)
*本中心開設之微學分課程，依據《國立中興大學專業領域微課程實施要點（1121025）》規定辦理。
*若需取得設備使用執照，需另行遵守規範。（例如，SEM/AFM 等設備的執照申請需同時完成 SEM/AFM (I, II) 課程並完成見習/實習 10 小時。執照申請費用為 500 NTD。）
核心設施簡介 不限科系皆可選修
實作課程
注意事項：
*此類別為大學部專業領域之微學分課程，研究士生欲採計畢業學分，請於修習完3門為一組後(即1學分)，於各自系所填寫修習外系課程畢業分申請書，用以計入研究所畢業學分。(各系所皆有各自認定之修習外系學分上限，請修課生自行確認。)
*本中心開設之微學分課程，依據《國立中興大學專業領域微課程實施要點（1121025）》規定辦理。
*若需取得設備使用執照，需另行遵守規範。（例如，SEM/AFM 等設備的執照申請需同時完成 SEM/AFM (I, II) 課程並完成見習/實習 10 小時。執照申請費用為 500 NTD。）
核心設施簡介 不限科系皆可選修
| 課程名稱 | 開課日期 & 報名連結 | 備 註 |
| 跨域半導體核心設施簡介 Introduction to Disciplinary Semiconductor Core Facilities. | 1.任選一日期報名 2. 不限科系 3. 大學部課程 |
實作課程
| 課程名稱 | 開課日期 & 報名連結 | 備 註 |
| 半導體儀器分析之場發射顯微鏡檢測分析實作課程(SEM I) Hand-on Course on Field Emission Microscopy Detection and Analysis in Semiconductor Instrumentation | (一) 0303 (額滿) 0407 0428 0602 | 1.全日課程 9:00~12:00, 14:00~17:00 2.可單獨報名 3.任選一日期報名 4. 大學部課程 |
| 高階半導體設施實作課程 I (SEM II) Advanced Semiconductor Facilities Hands-on Course I | (二) 0304 (額滿) 0408 0429 0603 | 1.全日課程 9:00~12:00, 14:00~17:00 2.需同時報名 (I, II) 並完成相關課程。 3.任選一日期報名 4.碩士班課程 |
| 半導體儀器分析之高解析度穿透式電子顯微鏡檢測分析實作課程(TEM) Hands-on Course on High-Resolution Transmission Electron Microscopy Detection and Analysis in Semiconductor Instrumentation | 3月 5月 | 1.任選一日期報名 2. 大學部課程 |
| 半導體儀器分析之掃描探針顯微鏡檢測分析實作課程 (AFM I) Hands-on Course on Scanning Probe Microscopy Detection and Analysis in Semiconductor Instrumentation | (三) 0305 0409 0430 0604 | 1.全日課程 9:00~12:00, 14:00~17:00 2. 可單獨報名 3.任選一日期報名 4. 大學部課程 |
| 高階半導體設施實作課程 II (AFM II) Advanced Semiconductor Facilities Hands-on Course II | (四) 0306 0410 0501 0605 | 1.全日課程 9:00~12:00, 14:00~17:00 2. 需同時報名 (I, II) 並完成相關課程。 3.任選一日期報名 4.碩士班課程 |
| 半導體儀器分析之共軛焦拉曼光譜儀分析實作課程 Hands-on Course on the analysis of semiconductor instruments using confocal Raman spectroscopy. | (五) 0307 0411 0502 0606 | 1.任選一日期報名 2. 大學部課程 |
| 課程名稱 | 開課日期 & 報名連結 | 備 註 |
| 半導體儀器分析之雙束型聚焦離子束系統實作課程 Hands-on Course on Dual Beam Focused Ion Beam System in Semiconductor Instrumentation | 4月 6月 | 1.任選一日期報名 2. 大學部課程 |
| 半導體儀器分析之雷射直寫式黃光微影製作圖案化半導體實作課程 Hands-on Course on Laser Direct Write Lithography for Patterning Semiconductors in Semiconductor Instrumentation. | 4月 6月 | 1.任選一日期報名 2. 大學部課程 |
| X光繞射分析於半導體產業之應用實作課程 Hands-on Course on X-ray diffraction analysis in the semiconductor industry | 4月 6月 | 1.任選一日期報名 2. 大學部課程 |
| 應用化學分析電子能譜儀在半導體製程之分析 Application of chemical analysis using Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA) in semiconductor processing. | 4月 6月 | 1.任選一日期報名 2. 大學部課程 |
| 高解析質譜分析之半導體材料不純物檢測分析實作課程 Hands-on Course on impurity detection and analysis of semiconductor materials using high-resolution mass spectrometry. | 4月 6月 | 1.任選一日期報名 2. 大學部課程 |
| 以紅外線光譜與電子順磁共振儀檢測半導體表面有機物殘存與晶格缺陷實作課程 Practical Course on Detecting Organic Residues and Lattice Defects on Semiconductor Surfaces Using Infrared Spectroscopy and Electron Paramag-netic Resonance | 4月 6月 | 1.任選一日期報名 2. 大學部課程 |
| 高階半導體設施實作課程（III）(碩) Advanced Semiconductor Facilities Hands-on Course III | 4月 6月 | 1.任選一日期報名 2.碩士班課程 |
