原子力顯微鏡
本預約系統於2024年01月01日正式開放預約
型號:Park NX-10
儀器規格
- 解析度:X-Y<1.0nm,Z<0.1nm, 掃瞄範圍≤100um
- 功能:Contact mode, Tapping mode, Non-contact mode, Force curve, Magnetic Force mode, Lateral Force mode, Conductive AFM mode, KPFM(AM or FM mode), Peak force tapping, 等功能。
- 樣品尺寸需 < 2吋
樣品準備 :
使用規則
- AFM提供粗糙度不超過5 μm的試片掃瞄。注意試片之潔淨度以免造成污染。不合格試片, 嚴禁使用本機台。
- 使用機台,請確實在使用記錄簿詳細記錄使用樣品、時間、陪同人員。
- 未確實填寫使用記錄簿者,一經查獲,取消其使用權。
- 授權人士方得使用,未經授權人士,需由合格使用者全程陪伴,並由合格使用者詳細填寫記錄。
- 機台使用時間採事先預約制,使用者可在網路預約使用時段,凡預約者,需準時到達使用,若遲到30分鐘,取消該時段預約權,並繳交開機費用,而此時段開放他人使用;超過三次預約不到者,取消其預約使用權,未預約者,可使用未被預約時段,若該時段已被預約,需等待預約者使用完畢,方可使用。
- 完全依據使用程序,並詳細填寫實驗記錄簿,各項使用不得省略步驟。
- 異常狀況發生無法操作時,立刻通知機台管理者,並由使用者將異常狀況登記在使用登記簿上,絕不可任意採取維修行動。
- 使用機台,均需使用手套,禁止徒手執行。
- 機台專屬工具及零件,僅供機台操作使用,不得私自帶走。工具用品使用過後,請清潔乾淨歸回原位,並將垃圾收拾乾淨。
- 參數的調整僅由管理員及其授權使用者操作,均需詳實記錄,一般使用者嚴禁任意使用。
- 研究用品,小心使用。
樣品準備
- 試片清洗請自理,請注意試片包封之潔淨度以免造成污染,若有不合實驗室規定之試片,本中心將通知申請人退件。
- 待測樣品為粉末或有鬆動及脫落的情形,本中心恕不服務。
- 所檢測之樣品材質需自行處理完整,如因使用者樣品問題而造成無法完成檢測的情況,使用者需自行負責。
- 粗操度不可超過5μm。
- 樣品說明文件請盡量註明樣品材料、化學成分、晶體結構、製程、樣品製備方法、希望得到的結果等。
- 寄送樣品者需標定樣品量測點、預期訊號位置、預期成果等詳細相關資訊。
- 樣品限制:
- 最大平面掃描範圍:100μm × 100μm
- 固態片狀材料,最大高度落差< 12μm
- 最大試片尺寸:50 mm × 50 mm,厚度< 20 mm
- 操作環境:大氣
檢測方式
- 本儀器採預約制,請與本中心聯絡預約
- 管 理 員:陳建宇 博士 永續能源與奈米科技研究中心
- 聯絡電話:(04)2284-0502 #192
- 傳真:(04)2285-1149
- E-mail:lone125@ms22.hinet.net
- 地址:402台中市南區興大路145號應用科技大樓1樓131室 能源奈米中心
- 現場繳費者可立即取件(含CCD數位影像檔案)。
- 匯票繳費者,於收到費用後一週內寄出。
注意事項
- 因故需取消實驗時,須在2日前通知管理員,否則仍需支付費用。累計達3次即停權處理。
- 機台使用注意事項:
- a. AFM之公物,皆不可帶離機台。
- b.違反機台管理規則者,取消其使用權。
- 寄送樣品者請先與奈米中心聯絡,預計完成時間為收件後14天,將以電話通知領取。
- 一支探針可提供最多5組數據 (視探針掃圖狀況而定) ,如探針已不適繼續掃圖,則需額外購買新探針繼續實驗。
- 本中心磁碟資料保存先以一個月為期限。
- 儀器如遇臨時維修,本中心有權利將委(自)測者時間延後,直到儀器可正常操作。
- 本辦法如有未盡事宜將隨時修正並公告之。